비접촉식 면저항측정기 상품리스트

접촉식 면저항측정기

비접촉식 면저항측정기

캐리어 라이프타임측정기

웨이퍼 Flatness / Resistivity

웨이퍼 두께측정기

프로브헤드

확산저항측정기(SRP)

이미지센서 CIS 테스터

장비통합솔루션(측정모듈)

비접촉식 면저항측정기

제품별 > 비접촉식 면저항측정기


	Full Auto Resistivity measurement system
	NC-120α
	- Res : 0.001∼60Ω·cm - Applications : Silicon wafer - Wafer sizes : 8"Ф or 12"Ф


	Vertical type Rs measurement system
	NC-1000
	- Rs : 3Ω/sq~2000Ω/sq or 3mΩ/sq~1Ω/sq (option : up to 3000Ω/sq) - Applications :...


	Non contact Rs measurement system
	NC-50/RG-1200S
	- Rs : 3Ω/sq~2000Ω/sq or 3mΩ/sq~1Ω/sq (option : up to 3000Ω/sq) - Applications : C...


	Full Auto Rs measurement system
	NC-60F/RS-1300N
	- Rs: [ITO] 5Ω/sq∼800Ω/sq [Metal thin film] 10mΩ/sq∼10Ω/sq - ITO film Thickness : ...

1 2 3 4 5 6 7 8