접촉식 면저항측정기
Manual Type
Semi Auto Type
Full Auto Type
Handy type
비접촉식 면저항측정기
Manual Type
Semi Auto Type
Full Auto Type
In-line Type
Handy type
캐리어 라이프타임측정기
웨이퍼 Flatness / Resistivity
PN판정기
웨이퍼 두께측정기
Manual Type
Semi Auto Type
프로브헤드
확산저항측정기(SRP)
이미지센서 CIS 테스터
표준샘플
장비통합솔루션(측정모듈)
접촉식 면저항
비접촉식 면저항
PN판정
웨이퍼 두께측정기 제품별 > 웨이퍼 두께측정기
Wafer 두께측정기 (Manual Type)
Proforma 300i
- Thickness,TTV & bow, Continuous and 5-point Measurement
- Thickness : Up to 1700μm
- Applications : Si, SiC, InP, Ge, GaAs*(300Gi Model)
- Sample sizes : 76 - 300 mm wafer diameters


















 - Non-contact Measurements. 

 - High-resolution LCD display

 - 5-point, TTV and bow measurements

 - Front USB port enables easy data storage to flash drives

 - MTI Instruments' Proprietary Capacitance Circuitry for Outstanding Accuracy and 
   Dependability.

 - 76-300 mm Diameter Wafer Range. 
 
 - +/-0.25 µm Accuracy. 
 
 - RS-232 and Ethernet Output Port to PC.

 - Parallel Port for Printer.